Дифракція у просвічувальному мікроскопі є важливим інструментом для вивчення мікроструктур матеріалів. Дифракційний образ утворюється, коли пучок електронів проходить через тонкий зразок та взаємодіє з його кристалічною структурою. Розсіяні електрони утворюють інтерференційну картину, яку можна зняти за допомогою електронного детектора та отримати дифрактограму. Дифрактограма - це графічне зображення інтенсивності дифрактованих електронів в залежності від їхнього кута розсіювання. Аналіз дифрактограми дає інформацію про кристалічну структуру зразка, його орієнтацію та фазовий склад. Для аналізу дифрактограми необхідно визначити піки дифракції та їхнє положення на дифрактограмі. Положення піків відповідає відстані між площинами кристалічної решітки, яка викликає дифракцію. Застосовують різні методи для аналізу дифрактограм, такі як метод Debye-Scherrer, Rietveld refinement та інші. Отримання дифрактограми є важливим етапом для подальшого вивчення мікроструктури матеріалу, що дозволяє отримати інформацію про розмір та форму кристалічних зерен, їхню орієнтацію та хімічний склад. Це допомагає визначати механізми формування та властивості матеріалу.